著者名	書名	版表示	出版者名	出版年	シリーズ名	番号	ISBN	ISSN	URL
Asian Test Symposium and IEEE Computer Society. Technical Committee on Test Technology and VLSI Society of India	Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium, November 23-24, 1995, Bangalore, India		IEEE Computer Society Press	1995			0818671297		https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA28737432
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