TY - BOOK
AU - Asian Test Symposium
AU - IEEE Computer Society. Technical Committee on Test Technology
AU - VLSI Society of India
TI - Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium, November 23-24, 1995, Bangalore, India
PB - IEEE Computer Society Press
PY - 1995
EP - xiv, 394 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA28737432
SN - 0818671297
ER -
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