Digital systems testing and testable design

書誌事項

Digital systems testing and testable design

Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman

IEEE Press , Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1990

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注記

Includes bibliographical references (p. 644-645) and index

IEEE order no. PC04168

Rev. print. publisher: IEEE and Wiley-Interscience

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