TY - BOOK
AU - Feldman, Leonard C.
AU - Mayer, James W.
TI - Fundamentals of surface and thin film analysis
PB - North-Holland : Elsevier Science Pub.
PY - 1986
EP - xviii, 352 p.
UR - https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA0028903X
SN - 0444009892
ER -
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