БНБ
"БСЭ" (95279)
-
Photogallery
-
Естественные науки
-
Математика
-
Технология
-
Гуманитарные науки
-
Общество
Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга
Иллюстрация "Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга" в Большой Советской Энциклопедии
(追記) (追記ここまで)
Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга
Рис. 5, а. Схема топографирования кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет» по методу Ланга. Рентгеновские монохроматические лучи от «точечного» источника выделяются узкой (0,1 мм) щелью так, что на кристалл попадает только излучение Кa1. Дифракционное изображение выделяется второй щелью и фиксируется на фотопластинке. Монохроматичность излучения тем выше, чем больше расстояние А и меньше ширина щели S. Для больших кристаллов необходимо синхронное возвратно-поступательное перемещение кристалла и фотопластинки (щели при этом неподвижны).
>> Вернуться к статье
Рентгеновская топография в БСЭ >>
Картинка "
Топографирование кристаллов в узком параллельном пучке «на просвет». Метод Ланга" в Большой Советской Энциклопедии была показана 1580 раз
TOP 20