БНБ

"БСЭ" (95279)
- Photogallery
- Естественные науки - Математика - Технология - Гуманитарные науки - Общество

Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца

Иллюстрация "Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца" в Большой Советской Энциклопедии

(追記) (追記ここまで)
Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца

Рис. 1, а. Схема топографирования кристалла «на отражение» по методу Шульца. Расходящийся из «точечного» (диаметром 25 мкм) фокуса пучок ретгеновских лучей с непрерывным спектром падает на кристалл под углами от J до J", удовлетворяющими условию Лауэ для лин волн от l до l". Отраженный пучок дает его дифракционное изображение на фотопленке.

>> Вернуться к статье Рентгеновская топография в БСЭ >>
Картинка "Топографирование кристалла «на отражение». Метод Шульца" в Большой Советской Энциклопедии была показана 1723 раз

TOP 20


AltStyle によって変換されたページ (->オリジナル) /