Рентгеновский дифрактометр, прибор для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Рентгеновский дифрактометр применяется для решения различных задач рентгеновского структурного анализа . Он позволяет измерять интенсивности дифрагированного в заданном направлении излучения с точностью до 10-х долей процента и углы дифракции с точностью до 10-х долей минуты. С помощью Рентгеновский дифрактометр можно производить фазовый анализ поликристаллических объектов и исследование текстур , ориентировку монокристальных блоков, получать полный набор интенсивностей отражений от монокристалла, исследовать структуру многих веществ при различных внешних условиях и т.д.
Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения, рентгеновского гониометра , в который помещают исследуемый образец, детектора излучения и электронного измерительно-регистрирующего устройства. Детектором в Рентгеновский дифрактометр служит не фотоплёнка, как в рентгеновской камере , а счётчики квантов (сцинтилляционные, пропорциональные, полупроводниковые счётчики или Гейгера - Мюллера счётчики ). Дифракционную картину образца в Рентгеновский дифрактометр получают последовательно: счётчик перемещается в процессе измерения и регистрирует попавшую в него энергию излучения за определённый интервал времени. По сравнению с рентгеновскими камерами Рентгеновский дифрактометр обладают более высокой точностью, чувствительностью, большей экспрессностью. Процесс получения информации в Рентгеновский дифрактометр может быть полностью автоматизирован, поскольку в нём отсутствует необходимость проявления фотоплёнки, причём в автоматическом Рентгеновский дифрактометр прибором управляют ЭВМ, полученные данные поступают на обработку в ЭВМ. Универсальные Рентгеновский дифрактометр можно использовать для различных рентгеноструктурных исследований, заменяя приставки к гониометрическому устройству. В больших лабораториях применяются специализированные дифрактометры, предназначенные для решения какой-либо одной задачи рентгеноструктурного анализа.
Лит.: Хейкер Д. М., Зевин Л. С., Рентгеновская дифрактометрия, М., 1963; Хейкер Д. М., Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов, Л., 1973.
Д. М. Хейкер.