Анизометр магнитный (от греч. ánisos — неравный и ...метр ), прибор для определения магнитной анизотропии .Современный Анизометр магнитный появились в 30-х гг. в связи с развитием теории ферромагнетизма и созданием ферромагнитных сплавов. Наиболее распространены Анизометр магнитный для определений ферромагнитной анизотропии монокристаллов и текстурованных материалов (см. Текстура , Текстура магнитная ).
В одном из распространённых типов Анизометр магнитный исследуемый образец помещают в сильное однородное магнитное поле Н (рис. 1). Образец намагничивается по направлению поля лишь в том случае, если поле направлено вдоль оси лёгкого намагничивания (ось O O на рис. 1). Во всех остальных случаях вектор намагниченности I занимает некоторое промежуточное положение между направлением Н и осью O O . Его можно разложить на компоненты I // и I ^ вдоль и поперёк поля. Компонента I ^ создаёт момент вращения М = I ^·H , который стремится повернуть образец, подобно тому, как магнитное поле Земли поворачивает магнитную стрелку, поставленную в направление восток — запад, в положение север — юг. Момент вращения, вызванный действием магнитного поля, компенсируется моментом, создаваемым упругими элементами прибора (2 на рис. 3). Угол поворота образца отсчитывается по шкале. Измерения производятся при различных направлениях поля Н (поворотом магнита плавно меняют угол a от 0 до 180 или 360°). Результаты измерений позволяют рассчитать константы анизотропии и оценить степень совершенства текстуры. Современный лабораторный Анизометр магнитный этого типа, созданный в НИИЧЕРМЕТ (рис. 2), обладает рядом преимуществ по сравнению с др. аналогичными приборами: он позволяет проводить исследования как массивных образцов, так и ферромагнитных плёнок в интервале температур от 1300 К (1027°C) до гелиевых (~1 К; ~ —272°С) и в магнитных полях напряженностью до 4000 ка/м (50 кэ).
Существует ряд других типов Анизометр магнитный, предназначенных, в частности, для измерений магнитной анизотропии материалов в производственных условиях (без вырезки образца).
Лит.:Акулов Н., Брюхатов Н., Метод количественного определения текстуры вальцованного материала, «Журнал экспериментальной и теоретической физики», 1933, т. 3, в. 1, с. 59; Пузей И. М., Температурная зависимость энергии магнитной анизотропии в никеле, «Изв. АН СССР. Сер. физическая», 1957, т. 21, No 8, с. 1088; Григоров К. В., Магнитный текстурометр, «Заводская лаборатория», 1947, т. 13, No 9, с. 1073.
И. М. Пузей.
H : I — вектор намагниченности образца; a — угол между направлением магнитного поля и осью лёгкого намагничивания." href="/a_pictures/18/10/202331132.jpg">H : I — вектор намагниченности образца; a — угол между направлением магнитного поля и осью лёгкого намагничивания."http://hydrogen.atomistry.com/">H : I — вектор намагниченности образца; a — угол между направлением магнитного поля и осью лёгкого намагничивания." src="a_pictures/18/10/th_202331132.jpg">
Рис. 1. Исследуемый образец (диск) в магнитном поле H : I — вектор намагниченности образца; a — угол между направлением магнитного поля и осью лёгкого намагничивания.
N, S — полюсы магнита (масса магнитной части прибора составляет 4,5 т)." href="/a_pictures/18/10/205773186.jpg">N, S — полюсы магнита (масса магнитной части прибора составляет 4,5 т)."http://nitrogen.atomistry.com/">N, S — полюсы магнита (масса магнитной части прибора составляет 4,5 т)." src="a_pictures/18/10/th_205773186.jpg">
Рис. 3. Схема магнитного анизометра, основанного на измерении вращательного момента (конструкция НИИЧЕРМЕТ): 1 — образец; 2 — упругие элементы; 3 — зеркало; 4 — источник света; 5 — шкала; N, S — полюсы магнита (масса магнитной части прибора составляет 4,5 т).