走査型電子顕微鏡
- 区分
- 設備
- 分類
- 分析機器類
- メーカー
- 日本電子(株)
- 型式
- JSM-5900LV
- 仕様及び性能
- 分解能 3.0nm(加速電圧30kV、WD8mm、二次電子像)
倍 率 ×ばつ18〜300,000
低真空モード 分解能 5.0nm(加速電圧30kV、WD5mm、反射電子像)
エネルギー分散型エックス線分析装置 型式JED-2200
※(注記)上記の仕様・性能は、カタログからの引用等ですので、実際に測定・試験ができる試料や測定物の種類・大きさ・形状等につきましては、担当職員までご確認ください。 - 用途
- セラミックの微細構造観察や微小領域の定性、定量、面及び線分析を行ったり、素材開発や異物の不良解析
- 導入年
- 2001年
- 画像
- 料金
- 5720円/時間
- 設置場所
- 会津若松技術支援センター
- 予約・連絡先
- 0242-39-2978
- 備考
- 県外企業は料金が2倍となります。詳しくは担当職員までご確認ください。
