走査型電子顕微鏡
- 区分
- 設備
- 分類
- 分析機器類
- メーカー
- 日本電子(株)
- 型式
- JSM-6510LA
- 仕様及び性能
- 分解能:高真空モード 3.0nm(30kV)、8nm(3kV)、15nm(1kV)
低真空モード 4.0nm(30kV)
×ばつ300、000(×ばつ96mm)
加速電圧:0.5〜30kV - 用途
- 真空中で細く絞った電子線でサンプル表面を走査し、その時にサンプルから放出される信号を検出して、液晶モニタ上にサンプル表面の拡大像を表示させる装置です。本装置は本体にエネルギー分散型X線分析装置(EDS)を装着したシステムで、サンプル表面の観察および元素分析を行うことができます。
- 導入年
- 2014年
- 画像
- 料金
- 5650円/時間
- 設置場所
- 会津若松技術支援センター
- 予約・連絡先
- 024-959-1738
- 備考
-
・当該設備は(公財)JKAの補助事業(機械工業振興補助事業)により導入されました。
・県外企業は料金が2倍となります。詳しくは担当職員までご確認ください。
