<図書>
何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | viii, 223p ; 21cm |
| 別書名 | 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education |
| 著者標目 | Gergen, Kenneth J. Gill, Scherto R. 東村, 知子 <ヒガシムラ, トモコ> 鮫島, 輝美 <サメシマ, テルミ> |
| 件 名 | BSH:教育評価 NDLSH:教育評価 |
| 分 類 | NDC9:371.7 NDC10:371.7 NDLC:FC63 |
| 書誌ID | 2001068119 |
| ISBN | 9784779517044 |
| NCID | BD00745593 WCLINK |
目次/あらすじ
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 利用注記 | 予約 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 教:社会科教育 |
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371.7/G36 | 0223031085 |
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9784779517044 |
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